本院覽號:02T-1021213
創作人:胡恩德、陳敬修、柯賢真
智財權:專門技術
摘要:
本發明可以針對所有發光物質,在有激發光源或無激發光源的情況下進行偵測,且不需要將激發光源透過複雜光學元件聚焦於物體表面。本發明所需樣品體積僅數微升(micro-liter)即可量測,且不受環境振動與雜訊光之影響。可量測之材料發光型態包含螢光、磷光、冷光及其他各種生物、化學反應產生之發光或散射光。本發明搭配自行開發之軟體控制與訊號分析系統,可以進行快速且高靈敏的發光材料特性分析。
可能的應用範圍:
量子點螢光分析、各種發光高分子聚合物、微奈米粒子特性分析、金屬微奈米粒子散射光分析、生物樣品標定檢測、光化學檢測、微奈米量測分析、半導體材料分析、發光二極體特性分析。
此項發明的優點:
本發明之方法,具有多項優點,包含:系統體積小、操作簡便、量測快速、高訊號靈敏度、高系統效能、低系統成本以及所需樣品體積微量之優點,同時,偵測過程不受環境振動與環境雜訊光之影響。其最大特點,是可以針對所有發光物質,在有激發光源或無激發光源的情況下進行偵測,且不需要將激發光源透過複雜光學元件聚焦於物體表面。本發明可穩定且快速的偵測各類物體之光訊號,其為目前其它光學偵測系統所不能及。
智財技轉處聯絡人:
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