本院覽號:28A-950613
創作人:王亦生、陳仲瑄、蔡尚廷、陳邱文
智財權:US7,649,170、中華民國專利申請中、世界專利申請中
摘要:
本裝置可同時檢測由離子源所產生之任何電性的離子,且不會有任何時間延遲。此裝置可大量提高待測物的質譜資訊,並藉由圖譜比對獲得最正確的分子結構資訊。本裝置目前搭配MALDI法,未來將可推廣至其他離子源。
可能的應用範圍:
離子檢測、化學物質分析、生物質譜分析、物理化學分析
此項發明的優點:
- 正、負離子同時偵測,沒有時間延遲
- 不需切換電壓極性,電路設計簡單
- 適用於MALDI離子源系統,也可擴展至其他離子源如SELDI,ESI,EI,CI等。
- 儀器設計單純、維修容易。
- 適用質量範圍高。
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